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大屏幕显示测量系统 SS445

大屏幕显示测量系统 SS445

产品时间:2020-06-22

访问量:39

厂商性质:代理商

生产地址:美国

简要描述:
大屏幕显示测量系统 SS445是专门为大屏幕投影显示测量而设计一款产品,适用于所有投影技术,如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕,以及后屏投影仪、仿真器等。

大屏幕显示测量系统 SS445

 

型号:SS445

品牌:Microvision

描述:SS445系统是专门为大屏幕投影显示测量而设计一款产品,适用于所有投影技术,如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕,以及后屏投影仪、仿真器等。SS445采用计算机控制的Pan & Tilt定位系统,从而移动到所需的测试点,配置的140万像素CCD相机,具有自动对焦功能,可以测量MTF、亮度、均匀度、伽马等,而配置的分光光谱辐射计可以用于亮度和色度的测量。测量时,一般放置在三脚架上或投影屏幕前的桌子上,从观察者的角度进行测量,从而更好地表征用户体验。大屏幕显示测量系统 SS445

 

 

产品亮点: 

l适合超大屏幕测量

l基于观测者角度测量,更好地表征用户体验

l多功能集合体,设计紧凑

l包含集成信号源

l具备MV remote模式,通过WiFi连接和测量移动设备

l自动化测试

l程序自动控温,精确测量

l包含MV系统软件,操作界面友好

l提供完整测试方案

l用户可自定义客制化测试

lNIST可溯源校准 

 

应用范围 

l投影显示 - DLP、LCOS、家用投影、影院投影、后屏投影仪、仿真器等

l平板显示(FPD)- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma

lCRT显示 - 单色,彩色,高分辨率医学显示器

 

升级选项: 

l精准位移台(搭配位移台,可精确位移从而实现自动测试) 

l提升测量范围(适用ND滤光片,提高感光器件的测试范围)

 

技术参数: 

CCD相机

图像传感器:1392x1040 像素

数字视频:12-位 

元件尺寸:6.45 μm/像素

同步性:同步捕获

滤镜:适光性 50%, 20%, 10% & 1% ND

标准镜头:25mm C mount, f1.6 - f16

视场:20mm@1m,可调节

工作距离范围:0.5~3.5 m

亮度精度:± 4% @ 2856K Ill.A

亮度范围:0.05 ~ 106 cd/m2 (含ND滤镜)

测量时间:对于多数测量<1 sec

 

Spectrometer + Goniometer 光谱辐射计+测角仪

测角仪倾斜角:0~85°

测角仪方位角:0~360°

波长范围:380 ~ 780nm (1000nm可选)

亮度范围:0.01 ~ 500K cd/m2

亮度精度:±3% @ 2856K Ill.A

亮度重复率:超过30分钟RSD < 0.5%,0.01 cd/m2灵敏度@ 3% RSD

色彩准确度:± 0.002 @ 2856K Ill.A

色彩重复率:± 0.0005 @ 2856K Ill.A

温度管理:电脑自动控制

光学器件:12mm 准直 

视场角:1.5°

数字分辨率:16 bit A/D

积分时间:16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)

光学分辨率:3.8nm半高宽 @ 100μm狭缝

校准:NIST可追溯 

操作温度:5~ 30℃

 

Pan & Tilt 位移台

分辨率:0.0032°

载荷量:9 lbs

 

测试案例

 

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